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低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
2007
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akatuki ao on
seizi kaziwara
kouhei miyase
tatuya suzuki
yuuta yamato
Keywords:
Computer architecture
Computer science
Automatic test pattern generation
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