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OS1901 LSI多層配線システム中の銅/絶縁層界面におけるサブグレインスケール付着強度の結晶方位依存性
OS1901 LSI多層配線システム中の銅/絶縁層界面におけるサブグレインスケール付着強度の結晶方位依存性
2012
yuka ooura
nobuyuki sisido
syouzi kamiya
takasi satou
yasuzou koiwa
masahiro nisida
yuuko sugiyama
masaki oomiya
kisi suzuki
yuuzi nakamura
tosiaki suzuki
tuyosi nokubi
Keywords:
Crystallography
Mechanical engineering
Materials science
Composite material
adhesion strength
crystal orientation
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