Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis

The paper deals with feature selection of testing signals used for fault-driven analysis of analog circuits based on some grey systems properties. Simple two stages fault diagnostic strategy for circuits with limited access to internal nodes is presented, illustrated with the examples and discussed. Algorithm enabling to detect and localize single and multiple catastrophic faults, is prepared under assumption, that input data sets are extracted from DC analysis. Streszczenie. W artykule przedstawiono dwuetapowy algorytm detekcji I lokalizacji pojedynczych i wielokrotnych uszkodzen ukladow analogowych, oparty o pewne techniki drązenia danych i elementy teorii systemow szarych. Zalozono ograniczony dostep do punktow wewnetrznych oraz mozliwośc analizy dynamicznej i staloprądowej badanych ukladow. (Diagnostyka ukladow analogowych z wykorzystaniem technik drązenia danych. ).