Characterization of corrosion products on chalcographic copper plates after 200 years' exposure to indoor atmospheres

This work studies the characterization of corrosion products formed on six eighteenth century chalcographic copper plates preserved in the National Chalcography Collection in the San Fernando Royal Academy of Fine Arts in Madrid. The experimental methods used were X-ray diffraction analysis (XRDA), Infrared spectroscopy (IRS), Auger electron spectroscopy (AES) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The main compounds found were malachite CuCO3 · Cu(OH)2, atacamite CuCl2· 3Cu(OH)2, nantokite CuCl, tenorite CuO, and cuprite Cu2O. Cuprite is the main compound found on the smooth areas of chalcographic plates, forming tarnish films. The thickness of the tarnish films is approximately 10–15 A. Beschreibung der Korrosionsprodukte auf Kupferstichplatten nach 200jahriger Exposition in Ausenatmosphare Die vorliegende Arbeit beschreibt die Korrosionsprodukte auf sechs chalkographischen Platten des 18. Jahrhunderts aus dem staatlichen Kupferstichkabinett der Koniglichen Akademie fur Schone Kunste von San Fernando in Madrid. Als Untersuchungsverfahren wurden die Rontgenbeugung, die Infrarotspektroskopie, die Augerspektroskopie und die Rontgenphotoelektronenspektroskopie eingesetzt. Als Hauptbestandteile wurden Malachit CuCO3 · Cu(OH)2, Atakamit CuCl2 · 3Cu(OH)2, Nantochit CuCl, Tenorit CuO und Cuprit Cu2O nachgewiesen. Letzteres ist Hauptbestandteil in den glatten Bereichen der Kupfeiplatten mit Anlauffilmen. Die Starke dieser Anlauffilme betragt rund 10–15 A.