Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test

L'etude presentee dans ce papier est une analyse des capacites de detection de fautes associees aux sequences de vecteurs adjacents (ou SIC pour Single Input Change) et non adjacents (ou MIC pour Multiple Input Change), dans le cadre du test integre. Cette efficacite est exprimee en terme de couverture de fautes sur les modeles de collage, de court-circuit et de delai de chemin.