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22FFL FinFET技術のトランジスタ信頼性特性化とモデリング【JST・京大機械翻訳】
22FFL FinFET技術のトランジスタ信頼性特性化とモデリング【JST・京大機械翻訳】
2018
Su C.-Y.
M Armstrong
Lei Jiang
S. A. Kumar
C. D. Landon
S. Liu
I. Meric
K.-W. Park
L Paulson
K. Phoa
B. Sell
J. Standfest
Ketul B. Sutaria
J. Wan
D. Young
S. Ramey
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