Old Web
English
Sign In
Acemap
>
Paper
>
Контроль структуры новых функциональных многослойных наноразмерных материалов комплементарными методами
Контроль структуры новых функциональных многослойных наноразмерных материалов комплементарными методами
2014
Пруцков Григорий Владимирович
Ковальчук Михаил Валентинович
Пашаев Эльхан Мерхам-Оглы
Субботин Илья Александрович
Чуев Михаил Александрович
Якунин Сергей Николаевич
Квадраков Владимир Валентинович
Лихачев Игорь Александрович
Keywords:
X-ray reflectivity
Crystallography
X-ray crystallography
Nanomaterials
Materials science
Heterojunction
Optoelectronics
Correction
Source
Cite
Save
Machine Reading By IdeaReader
0
References
0
Citations
NaN
KQI
[]