XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report

R. Abela,K. Witte,A. Schwarz,H. Redlin,H. J. Eckoldt,M. Hartrott,K. Floettmann,M. Fajardo,V. Katalev,T. Schilcher,K. Tiedtke,J. Baehr,W. Singer,E. Sombrowski,S. Casalbuoni,J. Hajdú,J.R. Schneider,G. Dipirro,J. W. Kim,R. Brinkmann,B. Racky,J. Chen,A. Nienhaus,H Chapman,H. Lierl,E. Gadwinkel,Ch. Gerth,I Robinson,S. Choroba,M. Maslov,R. Wenndorff,C. Pagani,G. Tallents,H.-J. Grabosch,E. Jaeschke,R. Paparella,P. Seller,P. Piot,I. Tsakov,D. Kraemer,A. Winter,M. Sachwitz,A. Cianchi,H. Weddig,W. Sandner,C Schroer,T. Nuñez,P. Castro,O. Napoly,Q. Kong,S.Simrock,U. Gensch,H. Thom,S. Bratos,C. Altucci,B. Dobson,C. Masciovecchio,H. Quack,R. Kienberger,M. Wendt,M. Chergui,O. Grimm,Anton Plech,F. Obier,B. Schmidt,V. Sytchev,J. Rossbach,O. Kozlov,M. Kuhlmann,F. Senf,A. Wolf,J. Vogel,J. Prenting,F. Stephan,E. Syresin,D. Sertore,W. Decking,N. Baboi,E. Vogel,L. Juha,A. Brandt,E. Collet,Y. Filipov,I. Vartaniants,J. Marangos,N. Golubeva,R Smith,S. Techert,A.A. Fateev,Michael Wulff,L Haenisch,M. Huening,V. Honkimäki,R. Treusch,Hyotcherl Ihee,S. Prat,B. Petrosyan,E. Prat,M. Tolan,Katja Honkavaara,V. Tsakanov,D. Ramert,F. Ö. Ilday,H.Schulte-Schrepping,W. D. Moeller,R. Schuch,A. Shabunov,D. Sellmann,J. S. Wark,J. Schäfer,F. Stulle,P. Nicolosi,M. Castellano,D. Trines,B. Fominykh,M Ross,Y. Kim,D McCormick,T. Tschentscher,F. Toral,K.P Sytchev,D. Reschke,Philip A. Anfinrud,I. Will,S. Toleikis,H. Schlarb,H. Bruck,L. Monaco,E. Ploenjes,S. Johnson,P. Schmueser,A. Aghababyan,B. Krause,J. H. Han,N. Tesch,K. Klose,J. Feldhaus,M. Nagl,M. Staack,R. Ischebeck,V. Kocharyan,Rodolphe Vuilleumier,M French,K. Wittenburg,G. Grübel,S. Riemann,L Froehlich,P. Wochner,M. Dehler,L. García-Tabarés,M. Seidel,S. Çelik,L. Lilje,C. David,H. T. Edwards,F. Gel'mukhanov,L. Poletto,C. Bostedt,H. Wabnitz,C. Bressler,H. Delsim-Hashemi,H. Kapitza,D. Kostin,I. Bohnet,R. Lange,D. Richter,A. Matheisen,W. Kook,P. Zambolin,B. Griogoryan,U Hahn,T. Wohlenberg,V. Miltchev,M. Schmitz,L. Petrosyan,S. Schreiber,J. Havlíček,J. Roensch,E. L. Saldin,J. J. Gareta,O. Matzen,Š. Schrader,L Catani,R.Kammering,M. Jablonka,D. Lipka,F.-R. Ullrich,C. Blome,B. Petersen,M. Goerler,M. Krasilnikov,F. Loehl,J. P. Jensen,D. Proch,H. Laich,V. Balandin,M. Tischer,D Charalambidis,T. Garvey,M. Luong,V. Rybnikov,M. Minty,H. Sinn,A. Cavalleri,A. Variola,T. Möller,Thomas Weiland,G. Pöplau,J. Becker,M.V. Yurkov,P. Zeitoun,R. Bandelmann,J. Pflueger,Rainer Wanzenberg,M Larsson,B. Steffen,A. Lindenberg,D. Riley,K. Rehlich,H. Remde,P. Michelato,K. Hacker,J. Krzywinski,D. Pugachov,R. W. Lee,W. Graeff,E.A. Schneidmiller,D. Noelle,A. Bolzmann,Bart Faatz,J.-P. Carneiro,M. Kollewe,N. Meyners,C. Gutt,H. Weise,S. Duesterer,A. Petrov,F. Kaerntner,M. Altarelli,H. J. May,O. Brovko,V. Schlott,V Ayvazyan,G. Neubauer,J Frisch,G. Kube,U. van Rienen,I. Zagorodnov,A. A. Sorokin,M. Clausen,Y. Bozhko,B Stephenson,H. Graafsma,A. Maquet,A. Zolotov,M. Schloesser,J. Sekutowicz,E. Matyushevskiy,M. Koerfer,M. R. Howells,Martin Dohlus,I. McNulty,A. Oppelt,F Rosmej,S. Khodyachykh,R. Wichmann,G. Amatuni,J. Wojtkiewicz,P. Meulen,A. Eckhardt,T. Limberg,N Mildner,O. Krebs,R. Reininger,W. Koehler,O. Hensler,L. Staykov,Friedrich Schotte,K. Jensch,V. Ziemann,E. Springate,B. Keil,P. Audebert,H. B. Pedersen,H. Danared,C. Magne,A. Leuschner,B. Beutner,R. Follath,K. Zapfe,T. Hott,K. Ludwig,M. Richter

XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report

2006

R. Abela
K. Witte
A. Schwarz
H. Redlin
H. J. Eckoldt
M. Hartrott
K. Floettmann
M. Fajardo
V. Katalev
T. Schilcher
K. Tiedtke
J. Baehr
W. Singer
E. Sombrowski
S. Casalbuoni
J. Hajdú
J.R. Schneider
G. Dipirro
J. W. Kim
R. Brinkmann
B. Racky
J. Chen
A. Nienhaus
H Chapman
H. Lierl
E. Gadwinkel
Ch. Gerth
I Robinson
S. Choroba
M. Maslov
R. Wenndorff
C. Pagani
G. Tallents
H.-J. Grabosch
E. Jaeschke
R. Paparella
P. Seller
P. Piot
I. Tsakov
D. Kraemer
A. Winter
M. Sachwitz
A. Cianchi
H. Weddig
W. Sandner
C Schroer
T. Nuñez
P. Castro
O. Napoly
Q. Kong
S.Simrock
U. Gensch
H. Thom
S. Bratos
C. Altucci
B. Dobson
C. Masciovecchio
H. Quack
R. Kienberger
M. Wendt
M. Chergui
O. Grimm
Anton Plech
F. Obier
B. Schmidt
V. Sytchev
J. Rossbach
O. Kozlov
M. Kuhlmann
F. Senf
A. Wolf
J. Vogel
J. Prenting
F. Stephan
E. Syresin
D. Sertore
W. Decking
N. Baboi
E. Vogel
L. Juha
A. Brandt
E. Collet
Y. Filipov
I. Vartaniants
J. Marangos
N. Golubeva
R Smith
S. Techert
A.A. Fateev
Michael Wulff
L Haenisch
M. Huening
V. Honkimäki
R. Treusch
Hyotcherl Ihee
S. Prat
B. Petrosyan
E. Prat
M. Tolan
Katja Honkavaara
V. Tsakanov
D. Ramert
F. Ö. Ilday
H.Schulte-Schrepping
W. D. Moeller
R. Schuch
A. Shabunov
D. Sellmann
J. S. Wark
J. Schäfer
F. Stulle
P. Nicolosi
M. Castellano
D. Trines
B. Fominykh
M Ross
Y. Kim
D McCormick
T. Tschentscher
F. Toral
K.P Sytchev
D. Reschke
Philip A. Anfinrud
I. Will
S. Toleikis
H. Schlarb
H. Bruck
L. Monaco
E. Ploenjes
S. Johnson
P. Schmueser
A. Aghababyan
B. Krause
J. H. Han
N. Tesch
K. Klose
J. Feldhaus
M. Nagl
M. Staack
R. Ischebeck
V. Kocharyan
Rodolphe Vuilleumier
M French
K. Wittenburg
G. Grübel
S. Riemann
L Froehlich
P. Wochner
M. Dehler
L. García-Tabarés
M. Seidel
S. Çelik
L. Lilje
C. David
H. T. Edwards
F. Gel'mukhanov
L. Poletto
C. Bostedt
H. Wabnitz
C. Bressler
H. Delsim-Hashemi
H. Kapitza
D. Kostin
I. Bohnet
R. Lange
D. Richter
A. Matheisen
W. Kook
P. Zambolin
B. Griogoryan
U Hahn
T. Wohlenberg
V. Miltchev
M. Schmitz
L. Petrosyan
S. Schreiber
J. Havlíček
J. Roensch
E. L. Saldin
J. J. Gareta
O. Matzen
Š. Schrader
L Catani
R.Kammering
M. Jablonka
D. Lipka
F.-R. Ullrich
C. Blome
B. Petersen
M. Goerler
M. Krasilnikov
F. Loehl
J. P. Jensen
D. Proch
H. Laich
V. Balandin
M. Tischer
D Charalambidis
T. Garvey
M. Luong
V. Rybnikov
M. Minty
H. Sinn
A. Cavalleri
A. Variola
T. Möller
Thomas Weiland
G. Pöplau
J. Becker
M.V. Yurkov
P. Zeitoun
R. Bandelmann
J. Pflueger
Rainer Wanzenberg
M Larsson
B. Steffen
A. Lindenberg
D. Riley
K. Rehlich
H. Remde
P. Michelato
K. Hacker
J. Krzywinski
D. Pugachov
R. W. Lee
W. Graeff
E.A. Schneidmiller
D. Noelle
A. Bolzmann
Bart Faatz
J.-P. Carneiro
M. Kollewe
N. Meyners
C. Gutt
H. Weise
S. Duesterer
A. Petrov
F. Kaerntner
M. Altarelli
H. J. May
O. Brovko
V. Schlott
V Ayvazyan
G. Neubauer
J Frisch
G. Kube
U. van Rienen
I. Zagorodnov
A. A. Sorokin
M. Clausen
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B Stephenson
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E. Matyushevskiy
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Martin Dohlus
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W. Koehler
O. Hensler
L. Staykov
Friedrich Schotte
K. Jensch
V. Ziemann
E. Springate
B. Keil
P. Audebert
H. B. Pedersen
H. Danared
C. Magne
A. Leuschner
B. Beutner
R. Follath
K. Zapfe
T. Hott
K. Ludwig
M. Richter

The following topics are dealt with: TTF/FLASH in the XFEL context, general layout of the XFEL facility, the XFEL accelerator, undulators for SAES and spontaneous emission, photon beamlines and scientific instruments, infrastructure and auxiliary systems, commissioning and operation, project management and organization, cost and time schedule. (HSI)

Keywords:

Nanotechnology
Analytical chemistry
X-ray
Free-electron laser
Engineering
Engineering physics
Materials science
technical design

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