Systeme et procede d'etalonnage avec autoreferencement

μCette invention se rapporte a un procede d'etalonnage d'un systeme d'inspection spectrographique, qui consiste a constituer plusieurs emballages, contenant chacun un groupe d'articles, ayant chacun une composition connue, a mesurer la valeur de reflectance de chacun de ces groupes d'articles et a obtenir ainsi un ensemble de valeurs de reflectance de reference, a normaliser cet ensemble de valeurs de reflectance de reference et a creer ainsi un ensemble de valeurs de reflectance de reference normalise, puis a memoriser cet ensemble de valeurs de reflectance de reference ainsi normalise.