Systeme de mesure microscopique non lineaire, 3d en temps reel et procede de mise en oeuvre associe

L'invention porte sur un systeme de mesure microscopique non lineaire, 3D en temps reel et sur un procede d'examen d'un ensemble de points d'image microscopiques dans des plans d'images differentes. Ce systeme comprend un laser pulse ou une source de lumiere a oscillation parametrique qui genere un signal optique d'examen, et peut servir a mesurer et/ou stimuler par photochimie des points preselectionnes dans un intervalle de temps court. Ce systeme comprend aussi une liasse de fibres composee de fibres optiques ou d'autres guides d'ondes, un commutateur optique a fonctionnement rapide, un systeme d'imagerie, une source de lumiere et un systeme optique. Le signal optique d'examen est signal optique fluorescent ou un autre signal optique image sur le point requis.