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侵入深さ一定法による残留応力分布の放射光非破壊測定(S06-2 材料内部の非破壊応力評価,S06 放射光による応力測定と残留応力評価)
侵入深さ一定法による残留応力分布の放射光非破壊測定(S06-2 材料内部の非破壊応力評価,S06 放射光による応力測定と残留応力評価)
2004
keisuke tanaka
yosiaki akiba
atene kawai
yuusuke morisita
Keywords:
Thin film
Analytical chemistry
Materials science
Nanotechnology
Optics
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