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X線・中性子反射率とすれすれ入射小角散乱による高分子薄膜構造研究 (総説特集 散乱測定によるソフトマテリアルの解析)
X線・中性子反射率とすれすれ入射小角散乱による高分子薄膜構造研究 (総説特集 散乱測定によるソフトマテリアルの解析)
2011
kou ki ogawa
tosiharu kanaya
Keywords:
Grazing-incidence small-angle scattering
Neutron
Reflectivity
Optics
Physics
Optoelectronics
polymer thin films
Materials science
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