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畳み込みニューラルネットワーク(CNN)とサポートベクターマシン(SVM)を用いた微小な欠陥を持つ不良品検出の基礎研究
畳み込みニューラルネットワーク(CNN)とサポートベクターマシン(SVM)を用いた微小な欠陥を持つ不良品検出の基礎研究
2019
kento nakazima
tora sin nagata
katura ware watanabe
Keywords:
Support vector machine
Artificial intelligence
Convolutional neural network
Computer science
Pattern recognition
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