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実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
2011
ryou ta sakai
kou taira miyase
akatuki ao on
masao asou
hirosi furukawa
yuuta yamato
seizi kaziwara
Keywords:
Engineering
Petroleum engineering
Mechanical engineering
Automatic test pattern generation
Construction engineering
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