Analogieverfahren für die Bestimmung elektromagnetischer Wechselfelder in Leitern und Halbleitern

Die vorliegende Arbeit beschreibt ein Verfahren zur Bestimmung von elektromagnetischen Feldern im Innern von halbleitenden Materialien. Nach Ableitung der Differentialgleichung fur die Wellenpotentiale folgt die Darstellung der Analogiemethode mittels eines elektrischen Impedanznetzwerkes. Die Grosen der Netzwerkelemente werden als Funktionen der Kenngrosen des Halbleiters berechnet. Anwendungen des Verfahrens auf halbleitende Platten und Zylinder sind mit der Theorie verglichen worden. Am Schlus wird die Verteilung der elektrischen Feldstarke in Leitern mit rechteckigem Querschnitt anhand des Analogieverfahrens bestimmt.