Resultados de ensayos de fiabilidad en memorias SRAM

En el presente trabajo se ha realizado un estudio de la fiabilidad de tres diferentes fabricantes de memorias RAM estaticas de 32K x 8. Con objeto de obtener los datos de calidad y fiabilidad requeridos, se ha llevado a cabo un programa de pruebas electricas, de vida acelerada y de caracterizacion tecnologica. Los componentes que han fallado durante las pruebas de vida han sido analizados con objeto de determinar el modo, mecanismo y causa de los fallos. Asimismo, se han estudiado los componentes que han resistido los ensayos acelerados, con la intencion de averiguar si sufrieron algun tipo de dano o degradacion durante la prueba. Los principales resultados obtenidos: a) El tiempo medio hasta el fallo (MTTF) de las memorias supera, en los tres fabricantes estudiados, los cincuenta anos. b) El mecanismo de fallo predominante es la contaminacion ionica. c) La fiabilidad en los tres fabricantes no se ve afectada ni por el metodo de soldadura, ni por el encapsulado empleado.