Old Web
English
Sign In
Acemap
>
Paper
>
Моделирование статических и динамических потерь в MOSFET-ключах
Моделирование статических и динамических потерь в MOSFET-ключах
2018
В. П. Бабенко
Московский технологический университет
В. К. Битюков
В. С. Кузнецов
Д.С. Симачков
Keywords:
MOSFET
Electronic engineering
Physics
Condensed matter physics
Correction
Source
Cite
Save
Machine Reading By IdeaReader
0
References
4
Citations
NaN
KQI
[]