光激发荧光谱术分析Co-Cr-Al(Y)纳米涂层的氧化 I.Al_2O_3相的表征与相转变

磁控溅射Co—Cr—Al(Y)纳米涂层在1000,1100和1200℃氧化一定时间后,用光激发荧光谱技术表征热生长的Al2O3相.发现氧化层局部区域存在由非稳态相向稳态相的转变,即: γ→θ→α;其转变过程随温度升高显著加快,并在1200℃下变得不明显.在相同温度下,Y明显减缓Al2O3相转变过程.