Изучение микроструктуры кристаллов Si, подвергнутых облучению быстрыми Н-=SUP=-+-=/SUP=--ионами и термообработке, методами высокоразрешающей трехкристальной рентгеновской дифрактометрии и электронной просвечивающей микроскопии
2019
- Correction
- Source
- Cite
- Save
- Machine Reading By IdeaReader
0
References
0
Citations
NaN
KQI