КАМЕРА ВТОРИЧНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭМИССИИ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ МЕДЛЕННО ВЫВЕДЕННЫХ ПУЧКОВ

2013 
Описана камера вторичной злектронной эмиссии для измерения интенсивности протонного пучка в диапазоне 1011 1013 протонов/с. Прибор используется для диагностики интенсивных пучков частиц, выведенных из ускорителя У-70 ИФВЭ. Рассматриваются детали конструкции и особенности технологии производства камеры, приводятся характеристики отдельных ее элементов.
    • Correction
    • Source
    • Cite
    • Save
    • Machine Reading By IdeaReader
    0
    References
    0
    Citations
    NaN
    KQI
    []