Système et procédé permettant de corriger les mesures d'épaisseur de produits sous forme de feuilles dans des systèmes de fabrication ou de traitement de feuilles

L'invention concerne un procede comprenant l'etape consistant a mesurer (508) une epaisseur d'une feuille (108) de materiau au moyen d'un capteur d'epaisseur (200, 300) ayant un premier et un second module de capteur (202-204, 302-304). Le procede comprend egalement l'etape consistant a ajuster (514) la mesure de l'epaisseur en fonction d'un deplacement transversal entre un premier composant de capteur dans le premier module de capteur et un second composant de capteur dans le second module de capteur pour produire une mesure d'epaisseur corrigee. L'etape consistant a ajuster la mesure de l'epaisseur peut comprendre l'application d'une fonction de correction qui ajuste la mesure de l'epaisseur en fonction du deplacement transversal mesure. La fonction de correction peut etre identifiee en creant de maniere repetee un defaut d'alignement entre le premier composant de capteur et le second composant de capteur, en mesurant une distance connue au moyen du capteur d'epaisseur, et en identifiant une erreur entre la mesure de la distance connue et la distance connue elle-meme.