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Acemap > Paper > 超高圧超高分解能透過電子顕微鏡によるGaN極性直接評価とその応用( 進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)

超高圧超高分解能透過電子顕微鏡によるGaN極性直接評価とその応用( 進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)

2002 
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