离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中铬、硅、磷

采用离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中Cr,Si和P,能克服铁合金存在的矿物效应和颗粒效应,该方法简单、快速、精度高、准确.当Cr,Si,P的质量分数分别为66.04%,0.64%,0.016%,其相对标准偏差分别为0.18%,3.12%,6.25%.该法测定值与化学值相比,一致性较好,能满足常规分析要求.