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27aXK-7 原子間力顕微鏡を用いたIn/Si(111)-4×1表面の室温測定(27aXK グラフェン・半導体,領域9(表面・界面,結晶成長))
27aXK-7 原子間力顕微鏡を用いたIn/Si(111)-4×1表面の室温測定(27aXK グラフェン・半導体,領域9(表面・界面,結晶成長))
2013
kouta iwata
sirou yamazaki
gi akira sugimoto
saneyuki abe
seizou morita
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