Verfahren zur bestimmung von diagnosemustern für zeitreihen eines technischen systems und diagnoseverfahren

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung von Diagnosemustern fur Zeitreihen eines technischen Systems und ein Diagnoseverfahren. Bei dem Verfahren zur Bestimmung eines oder mehrerer Diagnosemuster/s fur Zeitreihen eines technischen Systems zwecks Diagnose eines Ereignisses werden zunachst ein oder mehrere Diagnosemuster angesetzt und - in einem ersten Schritt mogliche Erweiterungen des oder der Diagnosemuster bestimmt, - in einem zweiten Schritt fur jede Erweiterung des oder je eines der Diagnosemuster eine Menge an Sequenzen aus den Zeitreihen bestimmt, in welchem die Erweiterung enthalten ist, - in einem dritten Schritt fur jede Sequenz dieser Menge gepruft, ob die Sequenz mit den Ereignis in Verbindung steht oder nicht und - in einem vierten Schritt diejenige/n Erweiterung/en, fur welche das Verhaltnis der Anzahl von Sequenzen der Menge, die mit dem Ereignis in Verbindung stehen und der Anzahl von Sequenzen der Menge am grosten ist, als neue/s Diagnosemuster angesetzt.