Alternatively thinned substrate processing method of polishing and subsequent cleaning
2014
减薄替代抛光及后序清洗的衬底加工方法,属于硅片加工领域,为避免抛光过程中对衬底片表面TTV影响,该方法:根据对金刚砂粒径的要求,选择25000以上材质目数,对硅片进行加工;保持硅片始终在减薄机主轴与吸盘角度状态在0um‑11um‑20um之间;将高目数磨轮放置在纯水浇注条件下;使用修刀板将磨轮中的磨牙进行修整,使用钢制块硅进行校准,保证磨牙与硅片形成加工角度在5mm‑5.02mmm之间;将陶瓷吸盘转速控制在100rpm‑300rpm,主轴转速控制在2000rpm‑3000rpm;加工过程中使用范围在4L/min‑7L/min冷却水流量控制;调整减薄机主轴进给程序四刀循序磨削控制。
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