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SONOSフラッシュメモリにおける電場誘起窒化にトラップされた電荷の横方向移動【Powered by NICT】
SONOSフラッシュメモリにおける電場誘起窒化にトラップされた電荷の横方向移動【Powered by NICT】
2017
Liu Yu-heng
Jiang Cheng-min
Chen Wei-chun
Wang Tahui
Tsai Wen-Jer
Lu Tao-Cheng
Chen Kuang-Chao
Lu Chih-Yuan
Keywords:
Chemistry
Electronic engineering
Mechanical engineering
Engineering physics
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