顺序注射-HG—AFS法测定食品接触材料中痕量镉迁移量

采用直接稀释法消除4％乙酸基体对原子荧光法测定镉的严重抑制干扰，建立了以钴和硫脲作增敏剂-顺序注射-氢化物发生-原子荧光光谱法测定食品接触材料中痕量镉迁移量的检测方法。优化了HG—AFS测定条件，研究了钴离子浓度、介质酸度、载流酸度、硼氢化钠浓度及共存元素及乙酸基质的干扰及消除方法。检出限为0．035μg／L，测定低限为0．001mg／L，相对标准偏差为2．36％-4．02％（n=8），回收率范围为95．1％～101％。方法灵敏、准确、快速、简便，适用于食品接触材料中痕量镉迁移量的测定。