СКЕЙЛИНГ В ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ АПЕРИОДИЧЕСКИХ СТРУКТУР С СИММЕТРИЕЙ САМОПОДОБИЯ

На основе численного моделирования рассмотрены свойства дифракционных решеток и многослойных систем, построенных с использованием одномерных моделей квазикристаллов. Показано, что существует прямая связь между симметрией самоподобия квазикристаллов и скейлингом в характеристиках указанных оптических устройств. Дана оценка степени структурного соответствия графических представлений геометрических свойств используемых моделей, картин дифракции света на решетках и спектров пропускания многослойных систем. Показано, что определенные типы симметрии самоподобия обеспечивают высокую устойчивость характеристик апериодических дифракционных решеток к изменению соотношения размеров образующих элементов.