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確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 (VLSI設計技術) -- (デザインガイア2019 : VLSI設計の新しい大地)
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 (VLSI設計技術) -- (デザインガイア2019 : VLSI設計の新しい大地)
2019
norihiro nakaoka
tomomi aono
souzi kudou
mori rei ou
yosinobu higami
hirosi takahasi
hiroyuki iwata
youiti maeda
jun matusima
Keywords:
Stuck-at fault
Reliability engineering
Computer science
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