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ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減 (デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減 (デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
2003
seizi kaziwara
yasusi minoru tutii
Lei Li
Krishnendu Chakrabarty
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