Développement expérimental d'une ligne PIXE-XRF pour les matériaux du patrimoine

L'analyse elementaire d'objets d'art ou d'archeologie exige l'emploi de methodes non destructives possedant une sensibilite suffisante pour les elements traces. La methode PIXE (acronyme pour Particle Induced X-ray Emission) satisfait a cette condition tout en se heurtant a deux contraintes majeures: le risque de deterioration de materiaux sensibles tels que les materiaux organiques et la faible sensibilite pour l'analyse d'impuretes legeres dans les matrices lourdes. Nous avons developpe une nouvelle ligne experimentale sur l'accelerateur de particules du Centre de recherche et de restauration des musees de France, permettant de s'affranchir de ces deux limitations en recourant a une variante de la fluorescence des rayons X, denommee PIXE-XRF (XRF pour X-Ray Fluorescence). L'extraction a l'air du faisceau permet une souplesse du dispositif nettement amelioree.