자유공간 물질상수 측정법을 이용한 W-Band 유전율 측정

본 논문에서는 W-band(75～110 GHz) 자유공간 물질상수 측정법을 논의하였다. 우선 자유공간에서 주위 환경에 영향을 덜 받으면서 피측정물(MUT: Material Under Test)에 의한 산란계수를 정확하게 측정하기 위한 W-band quasi-optical 기술 기반 자유공간 물질상수 측정시스템을 논의하고, 관련 측정시스템의 GRL(Gated Reflect Line) 교정법을 기술하였다. 그리고 공기를 피측정물로 하여 제안된 측정법의 타당성을 보이고, 두께가 1.1 mm, 2 mm, 2.75 mm, 5 mm인 arystal 평판에 대한 측정 결과를 제시하였다.