Calculation of coverage and flake size of monolayers grown by chemical vapor deposition technique

Gecis metal dikalkojenitleri (GMK'lar) gibi iki boyutlu (2B) malzemeler, entegre devrelerde kullanilmak icin buyuk bir potansiyele sahiptir. Bununla birlikte, elektronik bilesen uretiminde kullanilabilen tekduze ve genis alanli 2B malzemelerin buyutulmesi, ozellikle tek katli yapilarin, entegre devrelere veya diger aktif cihaz uygulamalarina dahil edilmesi icin hala ana zorluklardan biridir. Bu calismanin amaci, tek tabakali yapilarla kaplanmis yuzeyin tum alttas yuzeyine oranini ve buyutulen pullarin maksimum alanini hesaplayan pratik ve guvenilir bir MATLAB hesaplama yontemini gostermektir. Bu calismada, yuzey kaplama oranini hesaplamak icin K-ortalamali kumeleme yontemi kullanilmistir, calisma sonucunda basit test goruntuleri (tek yildiz ve tek altigen sekilleri) icin %~96 dogruluk orani elde edilmistir. Bununla birlikte icinde birden fazla sekil iceren test goruntulerinde %~98 dogruluk orani elde edilmistir. Ayrica uretilen pullarin alaninin %~99 dogruluk oraniyla hesaplanmasi ve maksimum alanda buyutulen pulun bulunmasi gosterilmistir. Yuzeyin kaplama orani ve pul boyutu bilgilerinin pratik bir sekilde hesaplanmasi, gelecekteki optoelektronik ve elektronik uygulamalar icin yeni malzeme buyutulmesi sirasinda deney parametrelerinin yuzey kaplamasina etkisinin kolayca tanimlanmasini saglayacaktir.